檢測流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報價，制定實驗方案

4、簽訂保密協(xié)議，付款

5、開始實驗

6、結束實驗，郵寄檢測報告

7、后期服務

第三方檢測報告有哪些用途?

1、投標/競標

2、研發(fā)科研項目

3、工業(yè)問題診斷

4、未知物分析檢測

5、銷售使用

6、大學高校論文實驗

檢測標準參考

EN 60068-2-66-1994基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:試驗方法.試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(非飽合加壓水蒸氣)

EN 60068-2-67-1996基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:試驗.試驗Cy壓:優(yōu)先用于元部件的穩(wěn)態(tài)濕熱加速試驗

DIN EN 60512-11-3-2003電子設備用連接器 試驗和測量 第11-3部分:氣候試驗 試驗11c:穩(wěn)態(tài)濕熱

GB/T 4937.4-2012半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)

IEC 60068-2-66-1994環(huán)境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)

IEC 60068-2-67-1995環(huán)境試驗 第2-67部分:試驗 試驗Cy:穩(wěn)態(tài)濕熱加速試驗(主要用于元件)

IEC 60068-2-78-2001環(huán)境試驗 第2-78部分:試驗 試驗室:穩(wěn)態(tài)濕熱

IEC 60512-11-3-2002電子設備用連接器 試驗和測量 第11-3部分:氣候試驗 試驗11c:穩(wěn)態(tài)濕熱

IEC 60749-4-2002半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:穩(wěn)態(tài)濕熱強加速應力試驗(HAST)

IEC 60749-4-2002/Cor 1-2003勘誤表1:半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:穩(wěn)態(tài)濕熱強加速應力試驗(HAST)

IEC 60749-5-2003半導體器件 機械和氣候試驗方法 第5部分:穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗

IEC 61300-2-19-2005纖維光學互連器件和無源器件 基本試驗和測量程序 第2-19部分:試驗 穩(wěn)態(tài)濕熱

JIS C5402-11-3-2005電子設備連接器.試驗和測量.第11-3部分:氣候試驗.試驗11c:穩(wěn)態(tài)濕熱

JIS C61300-2-19-2009纖維光學互連器件和無源器件 基本試驗和測量程序 第2-19部分:試驗 穩(wěn)態(tài)濕熱

KS C IEC 60068-2-66-2020環(huán)境試驗—第2-66部分：試驗方法—試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)

MS IEC 60068-2-66-2008環(huán)境試驗 第2-66部分：試驗方法 試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)

MS IEC 60068-2-67-2008環(huán)境試驗 第2-67部分：試驗 試驗Cy：穩(wěn)態(tài)濕熱加速試驗(主要用于元件)

MS IEC 60068-2-78-2008環(huán)境試驗 第2-78部分：試驗 試驗室：穩(wěn)態(tài)濕熱

T/IAWBS 009-2019功率半導體器件穩(wěn)態(tài)濕熱高壓偏置試驗

TCVN 7699-2-66-2007環(huán)境測試 第2-66部分：試驗 試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)