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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007
包裝 運輸包裝件基本試驗 第 2 部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T 4857.2－2005，ISO 2233:2000
汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件 QC/T 413-2002
電子測量儀器通用規(guī)范 GB/T 6587-2012
計算機(jī)通用規(guī)范 第 1 部分：臺式微型計算機(jī) GB/T9813.1-2016
計算機(jī)通用規(guī)范 第 2 部分：便攜式微型計算機(jī)GB/T 9813.2-2016
計算機(jī)通用規(guī)范 第 3 部分：服務(wù)器 GB/T 9813.3-2017
計算機(jī)通用規(guī)范 第 4 部分：工業(yè)應(yīng)用微型計算機(jī) GB/T9813.4-2017
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 4 部分：低溫試驗 GJB150.4A-2009

對于低溫試驗應(yīng)用范圍
低溫測試主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。

低溫的影響
1、使材料發(fā)硬變脆；
2、潤滑劑粘度增加，流動能力降低，潤滑作用減小；
3、電子元器件性能發(fā)生變化；
4、水冷凝結(jié)冰；
5、密封件失效；
6、材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。

低溫試驗的時間
低溫工作試驗一般至少為2小時，貯存為12小時或24小時等，測試時長根據(jù)產(chǎn)品實際運用的環(huán)境以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)有明晰的規(guī)定，這個測試時間可以根據(jù)實際情況進(jìn)行選擇。
低溫工作試驗一般比低溫貯存試驗的溫度點相對寬松，工作或啟動試驗屬于要通電進(jìn)行性能測試，相對嚴(yán)苛。
低溫環(huán)境試驗屬于極限應(yīng)力的環(huán)境適應(yīng)性試驗測試類型，在進(jìn)行試驗前，需要明確了解用戶方以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對于產(chǎn)品的低溫實驗要求。

低溫試驗的測試條件
低溫溫度點、低溫試驗時間、溫度變化速率。

低溫試驗主要用于評價在儲存、工作和拆裝操作期間，低溫條件對裝備的安全性、完整性和性能的影響。確定低溫試驗順序，需遵循兩個原則：最大限度地利用裝備的壽命期限和施加的環(huán)境應(yīng)能最大限度地顯示疊加效應(yīng)。目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。