探測(cè)器每項(xiàng)環(huán)境試驗(yàn)通常包含下述操作過程：
a）預(yù)處理；
b）初始檢測(cè)；
c）條件試驗(yàn)；
d）中間檢測(cè)（需要時(shí)）；
e）恢復(fù)；
f）最后檢測(cè)。

探測(cè)器是核儀器系統(tǒng)探測(cè)和測(cè)量核輻射的部件，也可以是獨(dú)立設(shè)計(jì).生產(chǎn)，試驗(yàn)、檢驗(yàn)和銷售的產(chǎn)品，同一產(chǎn)品的使用環(huán)境非常廣泛，不同產(chǎn)品之間差別極大。 特別是有些探測(cè)器對(duì)溫度變化極為敏感，有些探測(cè)器在環(huán)境變化時(shí)容易受損等。
當(dāng)探測(cè)器與核儀器在相同環(huán)境下工作時(shí)，其嚴(yán)酷等級(jí)應(yīng)高于核儀器；特別是探測(cè)器所處的環(huán)境條件通常更嚴(yán)酷和更復(fù)雜，包括反應(yīng)堆堆芯、井下、水下等特殊使用環(huán)境，可能要經(jīng)受高核輻射、高氣壓、水壓等環(huán)境條件。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸樘綔y(cè)器提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸樘綔y(cè)器提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

GB/T 10263-2006 核輻射探測(cè)器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)
GB/T 2423.61-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)和導(dǎo)則：大型試件砂塵試驗(yàn)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：支持文件和導(dǎo)則 振動(dòng)試驗(yàn)選擇
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi：振動(dòng) 混合模式
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓

探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)通常包含的試驗(yàn)項(xiàng)目及其試驗(yàn)順序如下：
1）低溫（貯存或使用） 試驗(yàn)
2）高溫（貯存或使用） 試驗(yàn)
3）恒定濕熱（貯存或使用） 試驗(yàn)
4）振動(dòng)試驗(yàn)
5）沖擊試驗(yàn)
6）包裝運(yùn)輸（包括公路運(yùn)輸、包裝跌落和包裝準(zhǔn)傾倒） 試驗(yàn)
7）自由跌落試驗(yàn)
8）低氣壓試驗(yàn)
9）高氣壓試驗(yàn)
10）溫度變化試驗(yàn)
11）太陽輻射試驗(yàn)
12）水（滴水或降雨、沖水、浸水） 試驗(yàn)
13）沙塵試驗(yàn)
14）長霉試驗(yàn)
15）鹽霧試驗(yàn)
16）核輻射照射試驗(yàn)
17）光效應(yīng)試驗(yàn)
18）電磁試驗(yàn)