GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A： 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db 交變濕熱

高溫老化試驗是針對高性能電子產品（如：計算機整機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監(jiān)視器、等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業(yè)提高產品質量和競爭性的重要生產流程，該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域。

高低溫交變濕熱試驗與交變濕熱恒溫恒濕試驗屬同類試驗，只是叫法不同，高低溫交變濕熱試驗是航空、汽車、家電、科研等領域必備的測試方法，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數及性能。

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●計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設備等精密儀器等 
●電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。
●電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設備；
●其他：包裝箱、運輸設備等。