1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無(wú)源器件：光無(wú)源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開(kāi)關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法 第14部分：通用試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)

進(jìn)行低溫試驗(yàn)的目的是為了確定產(chǎn)品在低溫條件下貯存或使用的適應(yīng)性。所謂低溫條件下的適應(yīng)性是指產(chǎn)品在恒定的低溫條件下貯存或使用時(shí)，能保持完好，不受損壞并能正常工作的能力。通信用光電子器件低溫貯存試驗(yàn)可確定光電子器件能否經(jīng)受低溫下運(yùn)輸和貯存，以保證光電子器件經(jīng)受低溫后能在規(guī)定條件下正常工作。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的低溫貯存試驗(yàn)服務(wù)。

按以下程序進(jìn)行試驗(yàn)：
a）試驗(yàn)前測(cè)試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗(yàn)條件的低溫試驗(yàn)箱中，在開(kāi)始計(jì)時(shí)之前應(yīng)有足夠降溫時(shí)間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)最高溫度的位置處；
c）在達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間后，把試樣從試驗(yàn)環(huán)境中移出，放置24 h，使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件，并對(duì)試樣光電特性進(jìn)行測(cè)試。