金屬表面異物成分分析
金屬表面異物成分分析 檢測(cè)方法
根據(jù)異物的實(shí)際情況選擇不同的測(cè)試方法：
1.FTIR如果異物是有機(jī)物，通常選用顯微紅外光譜儀進(jìn)行分析，獲得異物的官能團(tuán)信息，與標(biāo)準(zhǔn)譜庫(kù)進(jìn)行檢索，確定異物的主要成分；
2.SEM+EDS如果異物是金屬或者氧化物，并且沒(méi)有明確的官能團(tuán)信息，通常選用電子顯微鏡-X射線能譜分析儀（SEM+EDS)對(duì)異物或材料表面進(jìn)行元素成分分析。
3.XPS如果異物是金屬或者氧化物，并且沒(méi)有明確的官能團(tuán)信息，同時(shí)是在材料極表面（納米級(jí)別）時(shí)，通常選用X射線光電子能譜儀（XPS）進(jìn)行元素成分分析。
金屬表面異物成分分析 項(xiàng)目介紹
表面異物分析是指對(duì)產(chǎn)品表面的微小異物或表面污染物、析出物進(jìn)行成分分析的技術(shù)，例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，借此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。健明迪檢測(cè)開(kāi)展金屬表面異物成分分析服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
金屬表面異物成分分析 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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GB/T 28898-2012 冶金材料化學(xué)成分分析測(cè)量不確定度評(píng)定
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GB/T 25050-2010 鎳鐵錠或塊 成分分析用樣品的采取
GB/T 35657-2017 化學(xué)分析方法驗(yàn)證確認(rèn)和內(nèi)部質(zhì)量控制實(shí)施指南 基于樣品消解的金屬組分分析
GB/T 32996-2016 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜
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BS EN 13615-2001 金屬鑄塊錫的分析方法.原子吸收光譜測(cè)定法測(cè)定99.90% 和 99.85%等級(jí)錫錠的雜質(zhì)成分含量
