光學儀器耐壓試驗光子儀器太陽輻射與風化試驗光學儀器振動與高溫低溫綜合試驗
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光學儀器耐壓試驗
試驗方法 高內壓試驗條件方法適合于因使用和運輸而暴露在一個最高壓力的嚴酷環境試驗，具有CMA，CNAS資質。
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光子儀器太陽輻射與風化試驗
試驗方法 1、太陽輻射試驗 按照試驗箱內部溫度、相對濕度、循環空氣速度、總輻照度、總曝光時間、總輻射強度、試驗程序、周期數、工作狀態等項目，區別嚴酷等級，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器振動與高溫低溫綜合試驗
試驗方法 試樣各部分都應達到試驗箱（室）溫度3K以內才開始試驗，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器污染試驗
試驗試劑 1、基本的潤膚劑材料和人造手汗： 液體石蠟、甘油、凡士林、羊毛脂、冷霜脂、人造手汗 2、試驗箱（室）試劑： 硫酸、硝酸、鹽酸、醋酸、三氯乙酸、氫氧化鉀，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器沖擊碰撞或跌落與高低溫綜合試驗
試驗方法 試樣各部分都應達到試驗箱（室）溫度3K以內才開始試驗，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器隨機振動與高低溫綜合試驗
試驗方法 試樣各部分都應達到試驗箱（室）溫度3K以內才開始試驗，具有CMA，CNAS資質。
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