振動試驗：適用于在使用中將會遭受到由于旋轉、脈動和振蕩諸力（例如在地面車輛、船舶或飛機上可能出現(xiàn)的）所產(chǎn)生的振動影響的產(chǎn)品，或用于經(jīng)受機械、地震現(xiàn)象所產(chǎn)生的正弦穩(wěn)態(tài)振動影響的產(chǎn)品。
沖擊試驗、自由跌落試驗：主要用于非包裝的試驗樣品，也可用于視包裝為其一部分的試驗樣品。

探測器機械環(huán)境試驗有穩(wěn)態(tài)振動（正弦）、運輸要求完整包裝后的公路運輸環(huán)境、非穩(wěn)態(tài)振動（包括沖擊）、自由跌落、按運輸要求完整包裝后的跌落、傾倒和靜負載，以及角運動和恒加速度等。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為核輻射探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的振動試驗、沖擊試驗、自由跌落試驗等機械環(huán)境試驗服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為核輻射探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的振動試驗、沖擊試驗、自由跌落試驗等機械環(huán)境試驗服務。

GB/T 10263-2006 核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導則 振動試驗選擇
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fi：振動 混合模式
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-81部分：試驗方法 試驗Ei：沖擊 沖擊響應譜合成
GB/T 4937 半導體器件機械和氣候試驗方法 手持電子產(chǎn)品用元器件桌面跌落試驗方法

振動試驗：確定探測器經(jīng)受振動的適應性以及評價其結構的完好性（包括研究其動態(tài)性能特性）。
沖擊試驗：確定探測器在使用過程中經(jīng)受多次非重復性機械沖擊的適應性以及評定其結構的完好性。
自由跌落試驗：確定探測器在使用過程中經(jīng)受跌落的適應性以及評定其結構的完好性。